【分享】转让一套日本电子JSM-6700F型场发射扫描电镜
有需要可站内与我联系。谢谢
一、技术指标:
二次电子分辨率:1.0nm(加速电压15kV) 2.2nm(加速电压1kV)
放大倍数:低倍:×25-×19000
高倍:×100-×650000
样品台尺寸:ф12.5-ф26mm
试样移动范围:X范围:0-70mm
Y范围:0-50mm
Z范围:1.5-25mm(连续旋转)角度360°
倾斜:-5-60°
加速电压:0-20kV
电流:0-15mA
扫描模式:SEI,COMPO
二、技术特点:主要特点为冷场发射电子枪,强励磁圆锥透镜 ,高度集成化和自动化。
三、主要用途:主要用于纳米材料显微结构、尺寸分析 ,材料微结构、相组成及相分布分析 ,材料中元素定性分析、定量分析、线分析、面分析、材料失效分析。
一、技术指标:
二次电子分辨率:1.0nm(加速电压15kV) 2.2nm(加速电压1kV)
放大倍数:低倍:×25-×19000
高倍:×100-×650000
样品台尺寸:ф12.5-ф26mm
试样移动范围:X范围:0-70mm
Y范围:0-50mm
Z范围:1.5-25mm(连续旋转)角度360°
倾斜:-5-60°
加速电压:0-20kV
电流:0-15mA
扫描模式:SEI,COMPO
二、技术特点:主要特点为冷场发射电子枪,强励磁圆锥透镜 ,高度集成化和自动化。
三、主要用途:主要用于纳米材料显微结构、尺寸分析 ,材料微结构、相组成及相分布分析 ,材料中元素定性分析、定量分析、线分析、面分析、材料失效分析。
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