2019年4月13日，中国计量测试学会组织有关专家对华中科技大学完成的“高精度宽光谱穆勒矩阵椭偏测量关键技术与纳米测量应用”科技成果进行了鉴定。
天津大学叶声华院士、西安交通大学蒋庄德院士、清华大学尤政院士、大连理工大学贾振元教授、中国计量科学研究院高思田研究员、北京理工大学赵维谦教授、西北工业大学苑伟政教授、上海交通大学朱利民教授、浙江大学居冰峰教授作为鉴定委员参加鉴定会。
鉴定会由叶声华院士主持。鉴定委员会听取了项目组人员所作的项目工作总结、技术研究汇报、查新情况、效益情况等；听取了测试组组长汇报的测试情况以及用户介绍的使用情况。同时，进行了现场考察。
该项目由华中科技大学刘世元教授团队和武汉颐光科技有限公司共同完成。项目提出一系列新原理、发明新技术、构建新模型，并研制出我国第一台精度宽光谱穆勒矩阵椭偏仪，实现了成果转化与产业化，形成了系列高端椭偏仪产品。经鉴定会全体评审专家认真评审，一致认为：该成果理论上有重要创新、技术上有重大突破，整体技术达到国际先进水平。其中，基于复合波片的宽光谱超级消色差偏振相位延迟技术和基于椭偏散射的纳米结构计算测量方法属国际首创，处于国际领先水平。
该项目打破了长期以来国外企业对我国高端椭偏仪市场的垄断，填补了我国在高端椭偏仪领域的空白，自2013年实现成果转化和产业化以来，仪器在国内外100余家学术机构获得成功应用，产生了重要的国内外影响，对我国先进制造业产生重大意义。
(原文标题：“高精度宽光谱穆勒矩阵椭偏测量关键技术与纳米测量应用”科技成果鉴定圆满结束)
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