它采用进口的半导体激光器，功率大、寿命长、单色性好；采用专门设计的由大规模集成电路工艺制造的大尺寸高灵敏度光电探测器阵列（本所专利），大幅度提高了测量精度；采用米氏散射理论的数据处理方式使测试数据得到准确还原；采用高精度的数据传输与处理电路等一系列先进的技术和制造工艺，使该仪器具有准确可靠、测试速度快、重复性好、操作简便等突出特点，是集激光技术、计算机技术、光电子技术于一体的粒度测试仪器。 测试范围：BI 0.15μm—400μm。 BII 0.10μm—450μm BL 0.4μm—1100μm BLS 0.20μm—650μm 技术参数： 重复性：<1%; 复现性：<2%; 系统误差：<2%; 软件运行环境：Windows95/98/xp/vista; 计算机接口：USB接口; 电源电压：85-264V/50HZ/60HZ.
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