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探测技术是现代信息获取的主要手段之一,探测技术的发展是随着其他关键技术的发展而发展的,由于激光技术、光波导技术、光电子技术、光纤技术、计算机技术的发展,以及新材料、新器件、新工艺的不断涌现,探测技术取得了巨大发展。近年来,探测技术引起了业内人士的普遍关注,在军事和民用领域占有越来越重要的地位。
继前两届新型探测技术及其应用研讨会成功召开之后,应广大专家和代表要求,组委会将于2016年11月在西安市继续举办“第三届新型光电探测技术及其应用研讨会”,深入研讨近年来涌现出的各种新型探测技术,包括微光探测、偏振探测、量子探测、单光子探测技术等。以促进我国新型光电探测技术及相关产业的可持续、健康发展。诚挚欢迎国内外相关领域的科研人员、教师、研究生等踊跃投稿。
征文方向:
紫外探测技术及应用
微光探测技术及应用
单光子探测技术及应用
红外探测技术及应用
太赫兹探测技术及应用
激光探测技术及应用
可见光探测技术及应用
偏振探测技术及应用
量子探测技术及应用
多光谱/高光谱/超光谱探测技术及应用
复合探测技术及应用
空间探测技术及应用
信号处理与检测
其他应用
论文发表:
投稿请登录:http://events.kjtxw.com/tougao/1426493004.html,中英文兼收。
请作者登录网站提交论文全文,组委会请专家进行审稿。通过审查的稿件被大会录用。择优推荐到正式出版物发表。英文稿件,将被SPIE会议论文集(EI检索)收录。中文稿件推荐至《红外与激光工程》(EI)、《光学精密工程》(EI)、《强激光与粒子束》、《中国光学》(科技核心期刊)、《太赫兹科学与电子信息学报》(科技核心期刊)正刊出版。
投稿截止时间:2016年9月30日
组委会联系方式: 秘书处联系人:刘艳
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联系电话:022-58168510
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