2009IEEE成像系统技术国际会议

放大字体  缩小字体 发布日期:2009-05-11  浏览次数:152   状态:状态
 
展会日期 2009-05-11 至 2009-05-12
展出城市 中国
展出地址 University of Akron, USA
主办单位 IEEE Instrumentation and Measurement Society

展会说明

会议简介


联系方式
联系人:Prof. George C. Giakos
电话:

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